TOS7210S缘测试仪,菊水TOS7210S

PID缘测试仪（TOS7210S）是为准确有效地对太阳能电池模块的PID(Potential Induced Degradation)现象进行评估，以缘电阻测试仪（TOS7200）为基础设计而成的测试仪。 
附有性切换功能，输出电压可达2000V,同时装载了nA级分辨率的电流表，因此不仅可以进行PID评估，还可以用于要求进行高敏感度测试的缘体评估测试。标准安装了可从外部调用的面板存储器及RS232C接口，因此也可以灵活对应自动化系统。

什么是PID现象？
PID现象是指太阳能电池与边框长期被施以高电压，电池发电量显著降低的现象。目前认为所施加的电压越高，越是在高温、高湿的环境下劣化现象越严重。如晶体硅太阳能电池模块的输出电压即使只有数十V，一旦直接连接的片数增加，串内的电位差将变得非常高。一方面，PCS（Power Conditioning System）作为交流电源与系统相连,使接地形态发生变化。输入端采用浮接（一侧电不能接地线）的无变压器方式近年有所增加。这种情况下电池和地线间将发生高电位差。现在可明确的是，晶体硅太阳能电池模块中，相对于边框（接地线）负电位高的电池容易发生PID现象。（请参照图1）目前，日本以zui大600V、欧洲以zui大1000V的系统电压运行太阳能电池模块，但是目前出现了提高zui大系统电压以削减企业用大规模太阳能发电系统的串数、PCS总数，提高发电效率的趋势。 

图2模拟了晶体硅太阳能电池模块的处于高电位差的状况。边框为正电位、模块电路处于负高电位的状况。目前认为是由于超白钢化玻璃内的钠离子向电池侧迁移而引起劣化。（薄膜太阳能电池模块也被确认出现PID现象，但是发生劣化的机制与晶体硅太阳能电池模块不同。）现在，各种研究机构正在通过研究、试验查找PID现象的原因。

• 可任意设定输出电压
  可将对被检品施加的测试电压设定在50Vdc-2000Vdc（分辨率1V）范围内。假设太阳能发电系统的电压在1000V以上，可对其进行评估。此外，在电气/电子部件、电气/电子设备的缘电阻测试中，也可对应JIS C 1302: 1994所规定的电压范围以外的测试。在50V-1000V范围内，输出特性以JIS C 1302: 1994为基准。 
  
• 性切换功能
  可通过主机面板的开关轻松切换输出性。PID现象是一种可逆现象，施加负偏压电压可能会恢复。性切换是一项不需要对被检品实施配线变更的便利功能。此外，通过RS232C接口可实施由外部控制的切换。 
  
• 建立输出端的浮地
  输出端子与接地电位间为浮地状态(*1)。此外，使用屏蔽电缆作为输出电缆 (TL51-TOS)。这样就不会测量被检品与大地间的电流，只测量测试点间的电流，可确保评估测试的高敏感度和性。
  *1：设定为正的端子的对地电压（±1000Vdc）设定为负的端子的对地电压（+1000Vdc及-3000Vdc） 
  
• 模拟输出端子
  在电阻显示模式中，基于对数压缩将对应电阻测量值的电压输出限制在0V-4V之间。在电流显示模式中，对应电流测量值及测量量程（4个量程）按线性标度输出。使用数据记录器等外部记录设备可对被检品的变化、劣化状况进行解析。