TAP2500泰克有源探头,美国泰克TAP2500

• 出色的电子性能
  • 高探头带宽
  • 快速探头上升时间
  • 出色的信号保真度
  • ≤0.8 pF 输入电容
  • 40 kΩ 输入电阻
  • -4 V 至 +4 V 输入动态范围
  • -10 V 至 +10 VDC 输入偏置范围
  • ±30 V（直流 + 峰值交流）zui大输入电压（非破坏）
• 的机械性能
  • 用于探测小型几何电路元件的紧凑型探头头部
  • 可使用 DUT 附属附件连接到小至 0.5 毫米针脚的 SMD
  • 强大的可靠性设计

• 易用
  • 直接连接到具有 TekVPI™ 探头接口的示波器
  • 在示波器画面上实现自动单位缩放和读数
  • 轻松访问示波器探头菜单画面以了解探头状态/诊断信息和控制探头直流偏置
  • 通过示波器实现远程 GPIB/USB 探头控制

• 高速设计的验证、调试和检定
• 信号完整性、抖动和定时分析
• 制造工程和测试
• 信号的电压摆幅高达 8 V_pk-pk

为应用选择合适的探头是在测量中取得信号保真度的关键。有源探头为高频测量提供了更真实的信号复制和保真度。通过超低输入电容和独特的接口，TAP2500 和 TAP3500 单端有源 FET 探头提供了当今数字系统设计所需要的高速电子和机械性能。

TAP2500 和 TAP3500 有源 FET 探头经过专门设计，可使用并直接连接到带有 TekVPI™ 探头接口的示波器，通过解决以下三个传统问题来实现高速信号采集和测量保真度：

• 通过 ≤0.8 pF 输入电容和 40 kΩ 输入阻抗降低 DUT 负载效应
• 利用多功能 DUT 连接可连接到小型 SMD
• 在探头端部为高达 3.5 GHz 的示波器保留仪器带宽 

低压单端探头通常用于测量低于 12 V 以地参考的高速信号。这种低压探头是在高阻抗、高频电路元件上进行测量的选择，这些测量中需要将探头负载影响降至zui低。用户应选择具有很低输入电容指标 (~1 pF) 的探头以zui大程度降低探头对电路的负载影响。具有较低输入电容的探头能在更高频率上提供更高输入阻抗。

泰克低压单端探头解决方案提供：

• 带宽高至 4 GHz。
• 很高的输入阻抗，很低的输入电容 (<1 pF)
• 的探头附件，实现测量性能